数字电路可测性设计的一种故障定位方法

2002年第4卷第1期

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《中国工程科学》 >> 2002年第4卷第1期

数字电路可测性设计的一种故障定位方法

华南师范大学物理系，广州 510631

资助项目：国家自然科学基金资助项目(60006002) 收稿日期： 2001-06-21 修回日期： 2001-09-28 发布日期： 2002-01-20

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摘要

在逻辑函数Reed-Muller模式的电路可测性设计方面，文章采用AND门阵列和XOR门树结构来设计电路，提出了一种设计方案，可实现任意逻辑函数的功能，而且所得电路具有通用测试集和完全可故障定位的特点。给出了进行故障定位的方法，并可把它应用于其他相关电路的可测性设计。

关键词

逻辑函数 ; 数字电路 ; 可测性设计 ; 故障定位 ; 单故障

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图1

图2

图3

图4

图5

参考文献

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