《1 引言》
1 引言
近年来发展起来的空时格码技术 (STTC) 由于能同时带来分集和编码增益, 因此备受关注, 其中空时格码的设计准则是该技术研究的核心问题。文献
笔者提出了当天线数较多时的改进设计准则, 并得到了性能为已知码中最优的新码, 还给出了快慢两种衰落条件下码性能差异原因的解释, 并将改进的设计准则应用于智贪码的设计。
《2 系统模型》
2 系统模型
一个具有nT个发射天线、nR个接收天线的平衰落基带系统, c
其中Es为平均每个符号的发射能量。n
《3 已有准则及其不足》
3 已有准则及其不足
笔者仅研究系统中天线数较多时 (nT≥2, nR≥2) 空时格码的设计问题, 因为, 一方面为了获得好的性能希望能在系统中多配置一些天线, 另一方面随着技术的发展在终端上配置2根甚至更多天线已成为可能。目前专门针对天线数较多情况下设计STTC的准则是文献
设发送码字c= (c1c2…cl) , 其中ct=c1tc
文献
也就是说c, e之间的平方欧式距离越大, 错误概率就越小。因此如果码G的d2G=dmax2, 则G是所求的好码。
不难看出以上准则中只考虑了码的最小平方欧式距离特性, 虽然具有最小平方欧式距离的码字对 (c, e) 具有最大的错误概率, 对码的整体性能有很大影响, 但这种影响并不是唯一决定性的, 其他的 (c, e) 码字对对码性能也有影响, 只不过不及前者大罢了。对于同样是MMSED准则下的多个好码, 虽然它们的最小平方欧式距离相同均为dmax2, 但各个码的次小平方欧式距离可能不同, 以及在各个平方欧式距离值处所对应存在的 (c, e) 对的数目也可能不同, 因此码性能仍可能相差较大。MMSED准则正由于忽略了这一点, 从而不能有效地从该准则意义下好码的多个码中选出相对最优的好码, 因此这个准则对于寻找最优码来说显得较粗糙。 (以下“距离”均指欧式距离)
《4 准则的改进》
4 准则的改进
《4.1平方距离分布》
4.1平方距离分布
为了弥补只考虑最小平方距离的不足, 有必要将集合SG中G的所有 (c, e) 码字对的平方距离考虑进来, 即计算 (c, e) 的平方距离在SG上的分布, 以下简称为码G的平方距离分布。考虑到网格码中对码性能影响较大的仅是那些错误事件长度较短的 (c, e) 码字对, 因此仅考虑错误事件长度小于等于编码器约束长度+1的 (c, e) 对, 以便在分布的计算量和精确度之间取得较好的平衡。显然要获得好的性能, 平方距离分布中 (c, e) 对应尽可能多地分布在平方距离值较大处。
《4.2平方距离和方-方和比分布》
4.2平方距离和方-方和比分布
平方距离分布特性虽然较最小平方距离特性在刻画码性能方面有了提高, 但具有相同平方距离分布的码其性能仍可能有一定差异。为了能分析这一差异, 需要一个新的错误概率P (c, e) 上界。
由文献
其中|βj (t) |2是对j, t独立且同分布的中心χ2型随机变量, 均值方差都为1。
当δH (c, e) nR≥4时 (该条件可近似转化为nT≥2且nR≥2) , 式 (4) 可近似认为是一系列独立同分布的随机变量之和, 由中心极限定理知, 该和式近似满足高斯分布, 其均值为u=
由于x>1时Q (x) < (2π) -1/2x-1exp (-x2/2) 且一般有σ/ (Rσ2-u) <1/R, 那么由式 (5) 得到P (c, e) 的新上界为
可见式 (6) 也是当系统中天线数较多时评判码性能优劣的一种度量, 比值
越大, 则误判概率就越小。该比值的分子是对平方距离|ct-et|2先按时间求和然后再平方, 即平方距离的“和方”, 分母是对平方距离|ct-et|2先平方然后再按时间求和, 即平方距离的“方和”, 该比值简称为平方距离和方/方和比。与4.1节所述类似, 仅考虑平方距离和方/方和比的最小值是不全面的, 应当计算码G所有 (c, e) 对的平方距离和方/方和比在SG上的分布。当多个码的平方距离分布相同时, 可以再用其平方距离和方/方和比分布对这些码做进一步的比较。
例如, nT=2, 8状态、4PSK调制的4个码Code1…Code4的生成矩阵见表1, 码的特性见表2, 性能的仿真曲线见图1, 仿真中l取130。
从表2中看出这4个码均为MMSED准则意义下的好码, 但图1显示出这些码之间存在着明显的性能差异。表2中Code1, Code2具有完全相同的平平方距离分布与平方距离和方/方和比分布, 因而图1中反映出两者的性能几乎完全相同。Code3虽然与Code1, Code2平方距离分布相同, 但Code3的平方距离和方/方和比分布更优, 性能相对有所提高。而Code4不仅与Code1, Code2, Code3在平方距离和方/方和比分布上不同, 更重要的是Code4具有更优的平方距离分布, 图1中反映出该码的性能也因此提高得更显著, 是4个码中最优的。所以平方距离分布特性对码性能的影响是主要的, 平方距离和方/方和比分布的影响是次要的, 仅用于当平方距离分布相同时对码做进一步细分。因为上界式 (6) 是相当宽松的, 对平方距离分布不同的码, 该界的松紧程度也相差较大, 平方距离和方/方和比分布不能用来比较平方距离分布不同的码。
Table 1 The generation matrixes of codes
《表1》
Code1 |
Code2 | Code3 | Code4 | New | |||||||||
nT=2, 8状态 |
nT=2 |
nT=3 | |||||||||||
4状态 |
8状态 | 16状态 | 32状态 | 64状态 | 8状态 | ||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Table 2 The characteristics of 4, 8-state, 4PSK modulated codes when nT=2
《表2》
码 |
平方距离分布 |
dmax2取值 | |||||||||||||||||||||||
平方距离 |
12 | 14 | 16 | 18 | 20 | 24 | 26 | ||||||||||||||||||
Code1, Code2 |
10 240 | 0 | 11 264 | 0 | 6 144 | 4 096 | 0 | ||||||||||||||||||
Code3 |
分布的 (c, e) 对数目 | 10 240 | 0 | 11 264 | 0 | 6 144 | 4 096 | 0 | 12 | ||||||||||||||||
Code4 |
3 072 | 12 288 | 6 144 | 2 048 | 5 120 | 1 024 | 2 048 | ||||||||||||||||||
码 |
平方距离和方/方和比分布 |
||||||||||||||||||||||||
比值 |
1.80 | 2.57 | 2.67 | 2.79 | 2.88 | 2.91 | 3.00 | 3.33 | 3.56 | 3.57 | 3.60 | 3.76 | 3.77 | 3.79 | 3.85 | 4.00 | |||||||||
Code1, Code2 |
3 072 | 0 | 7 168 | 0 | 0 | 0 | 7 168 | 0 | 0 | 6 144 | 4 096 | 0 | 0 | 0 | 0 | 4 096 | |||||||||
Code3 |
(c, e) 对数目 | 3 072 | 5 120 | 2 048 | 0 | 0 | 5 120 | 0 | 3 072 | 4 096 | 1 024 | 3 072 | 0 | 0 | 3 072 | 2 048 | 0 | ||||||||
Code4 |
3 072 | 0 | 2 048 | 2 048 | 8 192 | 0 | 0 | 0 | 4 096 | 1 024 | 1 024 | 2 048 | 4 096 | 0 | 4 096 | 0 |
《图1》
图1 nT=2, 8状态 4PSK调制的4个码的误帧率 (nR=4)
Fig.1 The FER of 4, 8-state, 4PSK modulated codes when nT=2, nR=4
《4.2.1 改进的准则》
4.2.1 改进的准则
快衰落时改进的STTC的设计准则:在平坦快衰落信道中, 当nT≥2且nR≥2时, 第1步选出所有最小平方距离达到最大值的码, 第2步对这些码按平方距离分布进行分类, 第3步再对具有最优平方距离分布的码按平方距离和方/方和比分布做进一步细分, 第4步找出上述2次分类后的最优类型及相应的码。对于因两个分布均相同而同属最优类型的多个码, 可以从中任选其一作为最优码。准则的流程图如图2所示。
在慢衰落且天线数较多时, 已有的设计准则是迹准则
《4.2.2 码搜索方法》
4.2.2 码搜索方法
文献
同一个码在快衰落时的平方距离分布与其在慢衰落时的迹分布在数值上完全相同, 因此可以利用慢衰落时好码搜索过程的一些中间结果, 以减少搜索计算量。
《5 设计实例》
5 设计实例
假设调制方式均采用4PSK (所有码的2个分布特性均不再列出) , 各状态的生成矩阵见表1。
nT=2的情况。从最基本的4状态开始, 经搜索找到了新的最优码New, 性能曲线见图3。图3中还给出了另3种典型码FVY, CYV和TSC
对于8状态找到了性能与CYV同为最优的新码, 性能曲线见图4。
对于16状态, 同样找到了新码, 与4状态时相似, 新码的性能与CYV码同为最优, 2个码的2个分布完全相同。出现这种现象的原因和4状态时相同, 经2次分类后的类型数只有5种。
在32状态, 新码较TSC, FVY码的性能增益分别在1.5 dB和2 dB以上, 与CYV码相比, 在FER为10-3处也有约0.5 dB优势, 性能曲线见图5, nR=2。
在64状态时, 新码相对于CYV码的优势并不十分明显 (其原因与未能穷尽搜索有关) , 如图6所示 (此时TSC和FVY码不存在) 。
在nT≥3的情况, 待搜索检验的码数量庞大。以8状态、nT=2的新码为基础, 采用文献
目前已知的其他快衰落时的好码还有SO
《6 相关应用》
6 相关应用
《6.1快慢衰落下码性能差异原因的新解释》
6.1快慢衰落下码性能差异原因的新解释
笔者发现同一个码一般在快衰落环境下的性能要比在慢衰落环境下好一些, 以前面提到的nT=2, 8状态、4PSK调制的3个码为例, 在2种环境下的性能曲线见图8 (nR=4) , 对于New和CYV码, 快、慢衰落时的性能差距在1.8 dB左右, 对于TSC约0.8 dB。
这种现象直观上可解释为快衰落时各个不同时隙衰落不相关, 有时间分集的效果, 但从P (c, e) 上界的角度可给出一个新的解释。由于同一个码的平方距离分布和迹分布相等, 因此码在快、慢两种衰落下的性能差异并不是由主要决定因素所致, 而是来自于次要决定因素的不同。当快衰落时P (c, e) 的上界为式 (6) , 据此得到了码性能的次要决定因素为平方距离和方/方和比分布;同理, 当慢衰落时可类似地推得
其中λi为A (c, e) 的特征值
Table 3 The comparison of two distributions between in fast and slow fading channels
《表3》
码 New |
平方距离或特征值和方/方和比分布 |
|||||
比值区间 |
[1.0, 1.4) | [1.4, 1.8) | [1.8, 2.0) | [2.0, 3.0) | [3.0, 3.9) | |
Slow |
(c, e) 对 | 10 464 | 15 104 | 6 176 | 0 | 0 |
Fast |
数目 | 0 | 0 | 3 072 | 8 192 | 20 480 |
当图8的信噪比小于等于2时, TSC码在慢衰落时的性能反而明显优于快衰落时的性能, 是一个例外。因为信噪比R太小, 将使R<u/σ2即σ2R-u<0, 导致式 (5) 中的Q函数不能用近似表达式展开, 使得上界式 (6) 不能成立。特别对于TSC这种性能较差的码, 虽然其u2/σ2较小, 但u/σ2却较其他码更大, 更容易使σ2R-u<0的情况出现。对于慢衰落时的式 (7) 也同样存在这个问题。由于信噪比太小, 式 (6) 和式 (7) 已不能再作为码性能比较的依据, 快衰落时性能也就不再优于慢衰落的。
《6.2智贪码的设计》
6.2智贪码的设计
在文献
一种设计智贪码的新方法。当nT≥2且nR≥2时, 快、慢2种衰落下对码性能起主要决定作用的分别是平方距离分布和迹分布, 且对于同一个码这2种分布数值上相等。所以一种衰落下的最优码在另一种衰落下性能也一定很好 (但不一定最优, 这是因为快衰落时的最优码, 其在慢衰落时的特征值和方/方和比分布不一定最优, 反之亦然) , 这符合智贪码的要求。实践表明在发射天线数、状态数较小时, 如nT=2, 4, 和8状态时, 2种衰落下的最优码往往相同;而当发射天线数、状态数较大时, 比如nT≥3时, 则一般不同, 但性能相差很小。因此设计智贪码的新方法, 是任意选取改进准则得到的快或慢衰落下的最优码作为智贪码。例如, 当nT=2, 8状态时, 快衰落下的最优码New (见表1) , 选其作为智贪码, 性能曲线见图8, 该码在两种衰落下均性能最优, 满足了在不同衰落速度下均为好码的要求, 是所求的智贪码。
《7 结语》
7 结语
在平坦快衰落条件下, 当nT≥2, nR≥2时, 给出了设计STTC的改进准则:平方距离分布准则与平方距离和方/方和比分布准则, 前者对码性能起主要决定作用, 后者起次要决定作用。依此改进准则找到了一些新码, 其性能为已知码中最优的。给出了P (c, e) 的一个新的上界, 该上界从新的角度解释了同一个码在快、慢2种衰落下存在性能差异的原因。另外由于同一个码在快衰落时的平方距离分布与慢衰落时的迹分布数值上相等, 且都对码性能起主要决定作用, 因而以此为依据设计在快、慢衰落下均具有良好性能的智贪码。