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郭峰林,管庶安,孔岩
《中国工程科学》 2012年 第14卷 第11期 页码 103-106
基于AOI的PCB检测系统中,样本PCB图像与待测PCB图像之间存在错位偏差,需要对准后才能进行下一步的检测工作。首先,依据PCB线路特征,定义了样本图像边缘点的概念,制订了边缘点抽样规则。针对待测PCB图像,提出了基于样本边缘点对准强度评价函数,建立了对准评价模型及对准快速算法。最后,通过PCB对准实验以及大量的实际测试应用,证明对准强度评价模型能准确地描述待测PCB图像与样本图像间的对准程度,对准模型为后期的缺陷搜索提供了可靠的偏移参数。
用于手机屏缺陷检测的基于图的两阶段分类网络 Research Article
周超凡1,2,刘妹琴3,2,1,张森林1,2,魏平3,陈霸东3
《信息与电子工程前沿(英文)》 2023年 第24卷 第2期 页码 203-216 doi: 10.1631/FITEE.2200524
基于双层多目标分割的超高速撞击航天器损伤红外检测算法 Research Article
杨晓1,殷春1,Sara DADRAS2,雷光钰1,谭旭彤1,邱根1
《信息与电子工程前沿(英文)》 2022年 第23卷 第4期 页码 571-586 doi: 10.1631/FITEE.2000695
Potential sources of unintentionally produced PCB, HCB, and PeCBz in China: A preliminary overview
Xiaotu Liu, Heidelore Fiedler, Wenwen Gong, Bin Wang, Gang Yu
《环境科学与工程前沿(英文)》 2018年 第12卷 第6期 doi: 10.1007/s11783-018-1036-9
A preliminary analysis of potential sources for unintentionally produced PCB, HCB and PeCBz in China. Activity rates of sources for reference years from 2000 to 2015 provided. Emissions from a number of sources summarized and compared. Implications for future research and regulation discussed.
关键词: Unintentionally produced POPs Polychlorinated biphenyls Hexachlorobenzene Pentachlorobenzene sources of releases Annual production activities
基于知识图谱技术的电力设备缺陷记录错误识别方法 Regular Article
Hui-fang Wang, Zi-quan Liu,huifangwang@zju.edu.cn
《信息与电子工程前沿(英文)》 2019年 第20卷 第11期 页码 1564-1577 doi: 10.1631/FITEE.1800260
智能手机成像的晶片上基于逆转录环介导等温扩增(RT-LAMP)技术的全血中HIV-1检测 Article
Gregory L. Damhorst,Carlos Duarte-Guevara,Weili Chen,Tanmay Ghonge,Brian T. Cunningham,Rashid Bashir
《工程(英文)》 2015年 第1卷 第3期 页码 324-335 doi: 10.15302/J-ENG-2015072
病毒载量测量对于人类免疫缺陷病毒 (HIV) 阳性患者长期临床护理来说是一个必不可少的工具。为提高该检测方法的普及性,人们已经开始开发可以进行即时检测的病毒载量检测平台,然而尚没有解决办法能够同时满足低成本、便携、易于操作等多种实际要求。集成实验检测结果表明,一滴约60 nL的反应液滴中仅有的3个病毒依然可以通过RT-LAMP技术被检测到,这相当于每微升全血样品中只有670个病毒。该技术在数字化RT-LAMP方法上具有重要意义,扩展该技术能够实现对HIV阳性患者在临床护理中采集指血进行病毒载量检测。研究结果显示,病毒载量检测过程所需的各个步骤,从血滴的准备到RT-LAMP反应的成像,都可以集成为晶片实验并且可以和移动设备兼容。
关键词: 人类免疫缺陷病毒(HIV) 病毒载量 环介导等温扩增 智能手机 即时检测
一种面向软件缺陷预测的相似性度量特征选择方法 Article
Qiao YU, Shu-juan JIANG, Rong-cun WANG, Hong-yang WANG
《信息与电子工程前沿(英文)》 2017年 第18卷 第11期 页码 1744-1753 doi: 10.1631/FITEE.1601322
基于新型拓扑Halbach阵列的PCB定子无铁心轴向磁通电机设计 Regular Papers
Xiao-yuan WANG, Xiang LI, Chun-peng LI, Si-jia XU, Le-tao LING
《信息与电子工程前沿(英文)》 2019年 第20卷 第3期 页码 414-424 doi: 10.1631/FITEE.1700345
屠海令
《中国工程科学》 2000年 第2卷 第1期 页码 7-17
随着超大规模集成电路设计线宽向深亚微米级(<0.5μm)和亚四分之一微米级(<0.25μm)发展,对半导体硅片及其它硅基材料的质量要求越来越高,研究上述材料中各种杂质的行为,控制缺陷类型及数量,提高晶体完整性,降低表面污染和采用缺陷工程的方法改善材料质量显得尤为重要。文章阐述了深亚微米级和亚四分之一微米级集成电路用大直径硅材料中铁、铜金属和氧、氢、氮非金属杂质元素的行为,点缺陷及其衍生缺陷的本质与控制方法,硅片表面形貌、表面污染与检测方法的研究热点。
陈积懋
《中国工程科学》 2000年 第2卷 第4期 页码 64-69
论述了检测复合材料和胶接结构不连续(缺陷)的新型多模综合无损检测技术。该技术以声与超声检测技术为基础,包含五种不同检测模式,用以检测复合材料与胶接结构的失粘、脱粘、分层、疏松、夹芯压皱及其他缺陷。它适用于复合材料与构件的制造、维修和使用现场。它的检测可靠性高,重复精度好。文章还讨论了组成多膜声学综合胶接检测仪的五种不同检测模式的原理,并从我们和国内外同行的大量实践经验出发,说明了综合无损检测技术的巨大发展前景。
种基于特征选择与迁移学习的度量补偿软件缺陷预测方法 Research Article
陈锦富1,2,王小丽1,2,蔡赛华1,2,徐家平1,陈静怡1,陈海波1
《信息与电子工程前沿(英文)》 2022年 第23卷 第5期 页码 715-731 doi: 10.1631/FITEE.2100468
关键词: 缺陷预测;特征选择;迁移学习;度量补偿
郭成超,许朋飞,钟燕辉
《中国工程科学》 2017年 第19卷 第6期 页码 72-79 doi: 10.15302/J-SSCAE-2017.06.011
标题 作者 时间 类型 操作
Potential sources of unintentionally produced PCB, HCB, and PeCBz in China: A preliminary overview
Xiaotu Liu, Heidelore Fiedler, Wenwen Gong, Bin Wang, Gang Yu
期刊论文
智能手机成像的晶片上基于逆转录环介导等温扩增(RT-LAMP)技术的全血中HIV-1检测
Gregory L. Damhorst,Carlos Duarte-Guevara,Weili Chen,Tanmay Ghonge,Brian T. Cunningham,Rashid Bashir
期刊论文
基于新型拓扑Halbach阵列的PCB定子无铁心轴向磁通电机设计
Xiao-yuan WANG, Xiang LI, Chun-peng LI, Si-jia XU, Le-tao LING
期刊论文