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8英寸绝缘栅双极型晶体管 (IGBT) 关键技术研究 Article
刘国友,丁荣军,罗海辉
《工程(英文)》 2015年 第1卷 第3期 页码 361-366 doi: 10.15302/J-ENG-2015043
基于8英寸绝缘栅双极型晶体管 (IGBT) 生产线的建设,重点解决了8英寸IGBT先进工艺技术、第四代高压双扩散金属氧化物半导体 (DMOS+) IGBT技术和第五代沟槽栅IGBT技术等关键技术问题
关键词: 绝缘栅双极型晶体管 (IGBT) 高功率密度 沟槽栅 8英寸 轨道交通
金属网栅透明导电膜光电性能综合评价因子 Research Articles
张怡蕾1,2,曹瑾璇1,2,陆振刚1,2,王赫岩1,2,谭久彬1,2
《信息与电子工程前沿(英文)》 2021年 第22卷 第11期 页码 1532-1540 doi: 10.1631/FITEE.2000690
结合选择性和数字湿法腐蚀的InAlAs/InGaAs InP基HEMTs两步栅槽腐蚀工艺 Article
Ying-hui ZHONG, Shu-xiang SUN, Wen-bin WONG, Hai-li WANG, Xiao-ming LIU, Zhi-yong DUAN, Peng DING, Zhi JIN
《信息与电子工程前沿(英文)》 2017年 第18卷 第8期 页码 1180-1185 doi: 10.1631/FITEE.1601121
关键词: 高电子迁移率晶体管(High electron mobility transistors HEMTs);栅槽;数字湿法腐蚀;选择性湿法腐蚀
蒋庄德,王琛英,杨树明
《中国工程科学》 2013年 第15卷 第1期 页码 15-20
王仲奇,郑严
《中国工程科学》 2000年 第2卷 第6期 页码 40-48
弯扭叶片在20世纪90年代已在英、美等发达国家较普遍地得到应用,在我国也成功地应用于蒸汽轮机,在航空发动机涡轮中的应用也有了良好的开端。文章就叶片弯曲降低能量损失的机理以及静态和动态实验对采用弯曲叶片的效果做了综合评述,对压气机采用弯曲叶片的科研进展,以及遇到的难点也作了概要的介绍。根据我们的设计经验,在文章的最后总结了弯曲叶片级设计时应遵循的几条原则。
基于AFM探针的纳米加工技术制备周期性纳米结构——沟槽和材料堆积形貌相结合 Article
耿延泉, 闫永达, 王继强, Emmanuel Brousseau, 孙彦文, 孙雅洲
《工程(英文)》 2018年 第4卷 第6期 页码 787-795 doi: 10.1016/j.eng.2018.09.010
本文提出了一种基于原子力显微镜(AFM)探针的加工技术制备周期性纳米结构的方法,该方法通过将加工得到的沟槽形貌和沟槽边缘的材料堆积形貌相结合得到周期性纳米结构。研究发现控制相邻沟槽的间距是保证周期性纳米结构质量的重要因素。实验结果表明,当相邻刻划轨迹间的进给量值等于单个沟槽两侧材料堆积峰值间的宽度时,可以通过本方法加工得到较高质量的周期性结构。
基于电感和变压器跨导提升技术、噪声系数为3.2 dB、带宽为9.8–30.1 GHz的CMOS低噪声放大器
陈宏尘1,朱浩慎1,吴亮2,车文荃1,薛泉1
《信息与电子工程前沿(英文)》 2021年 第22卷 第4期 页码 586-598 doi: 10.1631/FITEE.2000510
基于自解耦三明治结构的横向运动栅场效应晶体管微机电系统微力传感器 Article
高文迪, 乔智霞, 韩香广, 王小章, Adnan Shakoor, 刘存朗, 卢德江, 杨萍, 赵立波, 王永录, 王久洪, 蒋庄德, 孙东
《工程(英文)》 2023年 第21卷 第2期 页码 61-74 doi: 10.1016/j.eng.2022.06.018
本文介绍了一种基于横向运动栅极场效应晶体管(LMGFET)的新型微型力传感器。文中提出了一种用于小型LMGFET器件性能评估的电气模型,与以前的模型相比,其具有更高精度。由此设计了一种新型的三明治夹层结构,该结构由跨轴解耦Au-栅极阵列层和两个柔性光刻胶SU-8 层组成。通过所提出的双差分传感布置,LMGFET工作时受垂直干扰产生的输出电流被大大消除,所提出传感器的相对输出误差从4.53%(传统差分结构)降低到0.01%。本文还为所提出的传感器开发和模拟了一个可行的制造工艺过程。基于LMGFET的力传感器的灵敏度为4.65 μA∙nN−1,可与垂直可动栅极场效应晶体管(VMGFET)器件相媲美,器件的非线性度提高了0.78%,测量范围扩大为±5.10 μN。上述分析能够为LMGFET器件的电气和结构参数提供全面的设计优化指导,并证明了所提出的传感器在生物医学显微操作应用中具有出色的力传感潜力。
一种用于工业级荧光光纤温度传感器的栅控双向静电放电器件的设计与优化 Research Article
汪洋1,金湘亮1,杨健1,严峰1,刘煜杰1,彭艳2,罗均2,杨军3
《信息与电子工程前沿(英文)》 2022年 第23卷 第1期 页码 158-170 doi: 10.1631/FITEE.2000504
关键词: 静电击穿;半导体器件可靠性;CMOS工艺
标题 作者 时间 类型 操作
结合选择性和数字湿法腐蚀的InAlAs/InGaAs InP基HEMTs两步栅槽腐蚀工艺
Ying-hui ZHONG, Shu-xiang SUN, Wen-bin WONG, Hai-li WANG, Xiao-ming LIU, Zhi-yong DUAN, Peng DING, Zhi JIN
期刊论文
基于自解耦三明治结构的横向运动栅场效应晶体管微机电系统微力传感器
高文迪, 乔智霞, 韩香广, 王小章, Adnan Shakoor, 刘存朗, 卢德江, 杨萍, 赵立波, 王永录, 王久洪, 蒋庄德, 孙东
期刊论文